Рис. 1: Первичный профиль после  низкочастотной фильтрации λs

Рис. 1: Первичный профиль после  низкочастотной фильтрации λs

Профили и фильтры (DIN EN ISO 4287:1998 и DIN EN ISO 11562:1998).

Фактическая шероховатость поверхности является результатом пересечения поверхности детали с плоскостью, направленной перпендикулярно этой поверхности. Эта плоскость должна располагаться примерно вертикально по отношению к обрабатываемым канавкам. Измеренный профиль поверхности – это профиль, получаемый после исследования его поверхности датчиком. При этом измеренные значения фильтруются путем применения определенного радиуса измерительного наконечника rtip и, если возможно, скользящей опоры датчика.

Рис.2: Профиль шероховатости после высокочастотной фильтрации λc с осевой линией согласно EN ISO 4287

Рис.2: Профиль шероховатости после высокочастотной фильтрации λc с осевой линией согласно EN ISO 4287

Такие неровности поверхности, как трещины, царапины или вмятины, не относятся к шероховатостям и не должны учитываться при измерении. При необходимости погрешность устанавливается согласно DIN EN ISO 8785. Первичный профиль – профиль, получаемый после низкочастотной фильтрации измеряемых величин с использованием длины волны отсечки λs. В ходе этого процесса коротковолновые части профиля срезаются. Параметры устанавливаются при помощи P и вычисляются в пределах базовой длины (длины отсечки). Это дает измеряемую длину или длину профиля шероховатости поверхности.

Рис. 3: После низкочастотной фильтрации λc

Рис. 3: После низкочастотной фильтрации λc

Профиль шероховатости получается в результате высокочастотной фильтрации первичного профиля с длиной волны отсечки λc. При этом длинноволновые части профиля срезаются. Параметры обозначаются как R и вычисляются на измеряемом участке ln, обычно состоящем из пяти одиночных участков lr. Длина одиночных участков совпадает с длиной волны отсечки λc шага фильтра.

Рис. 4: Профиль волнистости после низкочастотной фильтрации λc и высокочастотной фильтрации λf с осевой линией согласно EN ISO 4287

Рис. 4: Профиль волнистости после низкочастотной фильтрации λc и высокочастотной фильтрации λf с осевой линией согласно EN ISO 4287

Профиль волнистости получается после низкочастотной фильтрации первичного профиля с длиной волны отсечки λc и высокочастотной фильтрации с длиной волны отсечки λf. Параметры обозначаются как W и вычисляются на измеряемом участке In, состоящем из нескольких базовых участков lw. Длина базового участка Iw совпадает с длиной волны отсечки λf шага высокочастотного фильтра.

Рис.5: Характеристики пропускания фильтров для различных профилей, фильтр Гаусса согласно DIN EN ISO 11562:1998

Рис.5: Характеристики пропускания фильтров для различных профилей, фильтр Гаусса согласно DIN EN ISO 11562:1998

При этом количество участков не нормируется и должно указываться на чертеже. Оно должно составлять от 5 до 10. Фильтры профиля λc (Рис. 3) и λf применяются последовательно. Профиль волнистости всегда является результатом применения обоих фильтров (Рис. 4).

Параметры шероховатости поверхности (DIN EN ISO 4287:1998)

  • Ra – среднее арифметическое шероховатости поверхности: среднее арифметическое всех значений профиля
  • Rmr(c) – пропорция материалов профиля: коэффициент от суммы длин всех материалов элементов профиля на определенной высоте с (в мкм) и измеряемом участке ln (выражено в процентах)
  • Rsm – средняя ширина канавки: усредненное значение ширины элементов профиля Xsi (ранее Sm); для вычисления горизонтальный и вертикальный порог счета определены.
  • Rt – общая высота профиля шероховатости: сумма значений высоты Zр в самой высокой точке профиля и глубины Zv в нижней точке на измеряемом участке ln.
  • Rzi – максимальная высота профиля шероховатости: сумма значений высоты в самой высокой точке профиля и глубины в нижней точке на базовом участке lri.
  • Rz1max – максимальная шероховатость поверхности: наибольшее из пяти значений Rzi пяти базовых участков Iri по всей измеряемой длине ln.
  • Rz – глубина неровностей профиля: усредненное значение из пяти значений Rzi пяти базовых участков Iri по всей измеряемой длине ln.

Для получения более подробной информации загрузите брошюру «Измерение шероховатости поверхности» – практические советы для лабораторий и мастерских (на англ. яз.).

Профилометр Mitutoyo Surftest® SJ-310
Портативный профилометр Surftest SJ-210 серии 178

Источник материала: перевод статьи
SURFACE ROUGHNESS – PRACTICAL TIPS FOR LABORATORY AND WORKSHOP,
Mitutoyo.com



Понравилась статья? Поделитесь: